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扫描开尔文显微镜

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扫描开尔文显微镜工作原理:

宏观开尔文补偿方法利用Kelvin方法,通过补偿电压的方式测量探针和样品之间的电势差。

样品类型:导体、半导体、绝缘体。

 

 

扫描开尔文显微镜应用领域:

扫描开尔文显微镜(KPFM)能定量表征电位和功函数,广泛应用于半导体器件、微纳电子器件、纳米材料以及生物类样本等的测量。

 

 

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